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三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

更新時(shí)間:2024-06-29
型號(hào):LQ-TS-80A
訪問(wèn)次數(shù):1217
三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱是根據(jù)用戶要求設(shè)計(jì)制造,適用于航空、航太、軍工、艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機(jī)及零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)及高溫或低溫環(huán)境下的貯存和試驗(yàn)。供用戶對(duì)整機(jī)(或部件)、電器、儀器、材料、涂層、鍍層等作相應(yīng)的氣候環(huán)境加速試驗(yàn),以便對(duì)試品或試品試驗(yàn)行為作出評(píng)價(jià)。
  • 詳細(xì)內(nèi)容
品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域化工,建材,電子,航天,汽車

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱是根據(jù)用戶要求,參照GJB150.5、GJB360.7、GJB367.2溫度沖擊試驗(yàn)相應(yīng)技術(shù)條件制造。主要用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫和極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度,借以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害,適用的對(duì)象包括金屬、塑膠、橡膠、電子…等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于航空、航太、軍工、艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機(jī)及零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)及高溫或低溫環(huán)境下的貯存和試驗(yàn)。供用戶對(duì)整機(jī)(或部件)、電器、儀器、材料、涂層、鍍層等作相應(yīng)的氣候環(huán)境加速試驗(yàn),以便對(duì)試品或試品試驗(yàn)行為作出評(píng)價(jià)。


性能參數(shù)參考如下:

一、低溫沖擊可選擇溫度范圍:A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃(廠家還免費(fèi)配高溫至150度)。

二、溫度偏差:±2℃。

三、溫度波動(dòng)度:±0.5℃。

四、溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5min。

五、溫度恢復(fù)條件:高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。

六、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式:采用氣動(dòng)驅(qū)動(dòng)。   

七、高溫室儲(chǔ)溫的升溫時(shí)間:30min (+25℃~+200℃)。

八、低溫室儲(chǔ)溫的降溫時(shí)間:65min (+25℃~-75℃)。

九、低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)|低溫沖擊機(jī)|沖擊試驗(yàn)機(jī)工作時(shí)的噪音:(dB)≤65( 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定≤65分貝不算噪音)

十、型號(hào)             內(nèi)箱尺寸(mm)             外箱尺寸(mm)           功率(kw)

LQ-TS-49       W360×H350×D400        W1550×H1730×D1440           18.5       

LQ-TS-80       W500×H400×D400        W1650×H1830×D1500           23.0

LQ-TS-150      W600×H500×D500        W1750×H1930×D1570           28.0

LQ-TS-225      W500×H750×D600        W1450×H2100×D1670           34.0

LQ-TS-408      W750×H800×D800        W1550×H2150×D1900           42.0

 

柳沁科技LQ-TS芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊實(shí)驗(yàn)箱示例圖1

柳沁科技LQ-TS芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊實(shí)驗(yàn)箱示例圖2

柳沁科技LQ-TS芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊實(shí)驗(yàn)箱示例圖3



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